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  • 2020

    10-20

    實際使用中,傅立葉變換拉曼可以很好地用于常規(guī)分析中,但在日常測量中也存在很多限制:只能使用1064nm近紅外激光,帶來的缺點是:低靈敏度、不適合測量水溶液、不適合測量深色樣品。光學設計限制了能夠達到的空間分辨率(這也是多數(shù)傅立葉變換拉曼光譜儀制造商不使用傅立葉變換拉曼顯微鏡的原因。色散型拉曼系統(tǒng)的優(yōu)勢在于在同一臺儀器上既可以進行常規(guī)的分析,又具有進行科學研究的能力,包括:多個激光波長:可以根據多種樣品的具體情況以及散射性質選擇優(yōu)化方案,從而實現(xiàn)增強靈敏度、控制穿透深度、抑制熒...

  • 2020

    10-15

    鎢燈絲掃描電鏡作為微觀形貌觀察的有力工具,正越來越迅速、廣泛地應用于冶金、礦物、化工、醫(yī)藥、生物、食品、納米材料等領域。作為常規(guī)的大型精密分析儀器,鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對較短,燈絲壽命短直接帶來掃描電鏡運行成本增加、有效運行時間降低、污染增加,掃描電鏡性能降低等等不良后果。在實際工作中,使用者可以通過以下措施來延長燈絲使用壽命。①新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽,當它被安裝到電鏡鏡筒里時,會從燈絲表面緩緩釋放,影響鏡筒的真空度,腐蝕燈絲。因此,新燈絲在更換前要先...

  • 2020

    10-9

    掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器,主要結構包括電子光學系統(tǒng)、信號收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng),是機械學、光學、電子學、熱學、材料學、真空技術等多門學科的綜合應用。掃描電鏡是一種新型的電子光學儀器,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。掃描...

  • 2020

    9-30

    高光譜遙感圖像和常見的二維圖像不同之處在于,它在二維圖像信息的基礎上添加光譜維,進而形成三維的坐標空間。如果把成像光譜圖像的每個波段數(shù)據都看成是一個層面,將成像光譜數(shù)據整體表達到該坐標空間,就會形成一個擁有多個層面、按波段順序疊合構成的三維數(shù)據立方體。高光譜遙感具有不同于傳統(tǒng)遙感的新特點:(1)波段多——可以為每個像元提供幾十、數(shù)百甚至上千個波段(2)光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm(3)波段連續(xù)——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽光譜范圍內提供幾乎連續(xù)的地物...

  • 2020

    9-15

    X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質,都有其特定的晶體結構,包括點陣類型、晶面間距等參數(shù),用具有足夠能量的X射線照射試樣,試樣中的物質受激發(fā),會產生二次熒光X射線(標識X射線),晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析,測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析,而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質上都屬于電磁波,...

  • 2020

    9-11

    掃描電鏡主要由電子光學系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)七大系統(tǒng)組成而成。利用掃描電鏡分析樣品時,首先要排除外界的干擾去除假象,盡量減少這些不利因素的影響,使分析結果更準確。制樣時產生的影響因素分析:1.樣品制備樣品的制備是能否得到重要信息的關鍵,若使用不正確的制樣程序,不僅會得不到清晰的圖像,而且有可能得到假象,即觀察到的圖像并不是真正的樣品內部狀態(tài)或主要成分,所以試樣制備方法的選擇對于熱加工、熱處理等工藝問題或后續(xù)加...

  • 2020

    8-17

    掃描電鏡是一個復雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制技術。掃描電鏡的基本工作過程用電子束在樣品表面掃描,同時陰極射線管內的電子束與樣品表面的電子束同步掃描,將電子束在樣品上激發(fā)的各種信號用探測器接收,并用它來調制顯像管中掃描電子束的強度,在陰極射線管的屏幕上就得到了相應襯度的掃描電子顯微像。電子束在樣品表面掃描,與樣品發(fā)生各種不同的相互作用,產生不同信號,獲得的相應的顯微像的意義也不一樣。這些信息的二維強度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有...

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